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PROUCTS LIST

新型MINITEST微電腦精密涂鍍層測厚儀|MiniTest-2100|

產品型號： MiniTest-2100

所屬分類：涂層測厚儀

產品時間：2025-07-21

簡要描述：新型MINITEST微電腦精密涂鍍層測厚儀|MiniTest-2100|
儀器特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自
具有不同的數據處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。

詳情介紹

新型MINITEST微電腦精密涂鍍層測厚儀|MiniTest-2100|

的詳細介紹

儀器特點：

MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自
具有不同的數據處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。

技術指標：

型號	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數（根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數）	1	1	10	99
每個應用行下的組（BATCH）數（對組內數據自動統計計算，并可設寬容度極限值）	-	1	10	99
可用各自的日期和時間標識特性的組數	-	1	500	500
數據總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據	-	-	-	√
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值	-	-	√	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間	-	√	√	√
其他功能
設置極限值	-	-	√	√
連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值	-	-	√	√
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數	-	-	√	√
連續測量模式中顯示zui小值	-	-	√	√

新型MINITEST微電腦精密涂鍍層測厚儀|MiniTest-2100|

可選探頭參數

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。

F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

探頭		量程	低端分辨率	誤差	zui小曲率半徑（凸/凹）	zui小測量區域直徑	zui小基體厚度	探頭尺寸
磁感應法	F05	0-500um	0.1um	±（1%±0.7um）	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600um	0.1um	±（1%±1um）	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600um	0.1um	±（1%±1um）	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F2/90	0-2000um	0.2um	±（1%±1um）	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F3	0-3000um	0.2um	±（1%±1um）	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5um	±（1%±10um）	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10um	±（1%±10um）	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10um	±（3%±50um）	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
兩用	FN1.6	0-1600um	0.1um	±（1%±1um）	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50um	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600um	0.1um	±（1%±1um）	平面	30mm	F0.5mm/N50um	φ21x89mm
	FN2	0-2000um	0.2um	±（1%±1um）	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50um	φ15x62mm
電渦流法	N02	0-200um	0.1um	±（1%±0.5um）	1/10mm	2mm	50um	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80um	0.1um	±（1%±1um）	2.5mm	2mm	100um	φ15x62mm
	N1.6	0-1600um	0.1um	±（1%±1um）	1.5/10mm	2mm	50um	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600um	0.1um	±（1%±1um）	平面/10mm	5mm	50um	φ13x13x170mm
	N2	0-2000um	0.2um	±（1%±1um）	1.5/10mm	5mm	50um	φ15x62mm
	N2/90	0-2000um	0.2um	±（1%±1um）	平面/10mm	5mm	50um	φ13x13x170mm
	N10	0-10mm	10um	±（1%±25um）	25/100mm	50mm	50um	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10um	±（1%±50um）	25/100mm	70mm	50um	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100um	±（1%±0.3mm）	100mm/平面	200mm	50um	φ126x155mm
	CN02	10-200um	0.2um	±（1%±1um）	平面	7mm	無限制	φ17x80mm

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

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