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產品型號： SZT-5-
所屬分類：測試儀
產品時間：2025-07-29
簡要描述：硅材料復合測試儀|SZT-5|SZT-4硅材料復合測試儀，是由二種硅材料測試儀器組合而成的二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率
硅材料復合測試儀|SZT-5|
硅材料復合測試儀
一,概述;
SZT-4硅材料復合測試儀，是由二種硅材料測試儀器組合而成的
1，二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率
在0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。通過對恒流源的調整，可以對某些測量結果進行修整，例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數，對硅材料薄層擴散和導電薄膜“方塊電阻“的修正系數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。
SZT－4數字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重煉回料的分選。
2，整流法硅材料P-N極性判別儀，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進行極性判別
本儀器工作環境條件為：
溫 度：18℃―25℃
相對濕度：50%－70%
工作室內應無強電場干擾，不與高頻設備共用電源。
二，技術參數
1,測量范圍
（1）電阻率測量：
電阻率 0.01-200Ω-cm
2,數字電壓表
（1）量 程 : 200mV單一量程
（2）誤 差: 讀數±0.2%±3字
（3）輸入電阻 : >10MΩ
3,恒流源
（1）電流輸出 0~10mA連續可調
（2）量 程 1mA, 10mA
（3）誤 差 ±0.2%±3字,
4,手持式四探針測試頭
（a）探 針 間 距:: 1mm
（b）探針機械游移率: ±1.0%
（c）探 針 材 料: 碳化鎢,φ0.
（d）壓力: zui大 2Kg
（2）導電類型判別：
可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導電類型測定，同時可以聲，光報警方式表示被測材料屬于"重摻"。
方塊電阻 0.01-200Ω-口
電 阻 0.01-200.0Ω
硅材料復合測試儀|SZT-5|
